Статья
Исследования плазмы
1980. Т. 18. № 4. С. 721–726
Салахов М.Х., Фишман И.С.
Определение температуры по самообращенным спектральным линиям с учетом реальной структуры плазмы
Предлагается определять коэффициент $Z=M_\infty Y_\infty$ ($M_\infty$ и $Y_\infty$ - коэффициенты теории Бартельса) с учетом реальной структуры плазмы. Для этого используются спектры поглощения и излучения, зарегистрированные в поперечном сечении плазмы, по которым определяется реальный ход концентрации атомов и полуширины контура тонкого слоя. Составлена итерационная схема для определения температуры. Проведен математический эксперимент и определено распределение температуры в плазме низковольтного импульсного разряда.
УДК: 533.9.08
Ссылка на статью:
Салахов М.Х., Фишман И.С. Определение температуры по самообращенным спектральным линиям с учетом реальной структуры плазмы, ТВТ, 1980. Т. 18. № 4. С. 721
High Temp. 1980, v.18, №4, pp. 0-0
Салахов М.Х., Фишман И.С. Определение температуры по самообращенным спектральным линиям с учетом реальной структуры плазмы, ТВТ, 1980. Т. 18. № 4. С. 721
High Temp. 1980, v.18, №4, pp. 0-0