Статья
Исследование плазмы
2001. Т. 39. № 2. С. 225–228
Дубинов А.Е., Летягин В.А., Михеев К.Е., Птицын Б.Г., Садовой С.А., Селемир В.Д.
Исследование электрофизических характеристик элегаза. Влияние приэлектродных слоев на точность измерений
Рассмотрено влияние приэлектродных слоев объемного заряда на точность определения напряженности электрического поля в ионизационной камере, описанной в первой части статьи [1]. Показано, что ошибка в измерениях при давлениях элегаза от $10$ до $100$ Тор не превышала $3\%$.
УДК: 533.93+621.315.618.9
Ссылка на статью:
Дубинов А.Е., Летягин В.А., Михеев К.Е., Птицын Б.Г., Садовой С.А., Селемир В.Д. Исследование электрофизических характеристик элегаза. Влияние приэлектродных слоев на точность измерений, ТВТ, 2001. Т. 39. № 2. С. 225
High Temp. 2001, v.39, №2, pp. 205-208
Дубинов А.Е., Летягин В.А., Михеев К.Е., Птицын Б.Г., Садовой С.А., Селемир В.Д. Исследование электрофизических характеристик элегаза. Влияние приэлектродных слоев на точность измерений, ТВТ, 2001. Т. 39. № 2. С. 225
High Temp. 2001, v.39, №2, pp. 205-208