Статья

Краткие сообщения
1996. Т. 34. № 3. С. 482–485
Онуфриев В.В., Гришин С.Д.
Экспериментальное исследование электрической прочности к обратному дуговому пробою термоэмиссионного диода с цезиевым наполнением
Ссылка на статью:
Онуфриев В.В., Гришин С.Д. Экспериментальное исследование электрической прочности к обратному дуговому пробою термоэмиссионного диода с цезиевым наполнением, ТВТ, 1996. Т. 34. № 3. С. 482

High Temp. 1996, v.34, №3, pp. 477-480