Статья

Архив, 1991, № 4

Исследование плазмы

1991. Т. 29. № 4. С. 671–677

Амиров Р.Х., Асиновский Э.И., Костюченко С.В.

Распад плазмы $\mathrm{SF}_6$ после наносекундного пробоя

Экспериментально исследована проводимость плазмы послесвечения $\mathrm{SF}_6$ после наносекундного разряда при давлениях $60$–$400$ мм рт. ст. Методика измерений основана на зондировании плазмы микросекундными импульсами тока. Построена модель распада плазмы. Распад плазмы определяется ион-ионной рекомбинацией слабонеидеальной плазмы, коэффициент рекомбинации рассчитывается с учетом трехчастичных столкновений с введением коэффициента активности по аналогии с электролитами. Обсуждается влияние кластеризации ионов.

УДК: 537.52
WoS: A1991HQ09900008

Ссылка на статью:
Амиров Р.Х., Асиновский Э.И., Костюченко С.В. Распад плазмы $\mathrm{SF}_6$ после наносекундного пробоя, ТВТ, 1991. Т. 29. № 4. С. 671

High Temp. 1991, v.29, №4, pp. 521-526