Статья

Исследования плазмы
1984. Т. 22. № 4. С. 644–649
Ивашкин А.Б., Козлов Н.П., Решетников Н.Н.
Определение профилей температуры на поверхности радиационно-охлаждаемого анода и средней плотности тока в анодном пятне аргоновых дуг
Аннотация
Рассмотрен температурный режим радиационно-охлаждаемого анода. Измерены распределения температуры по поверхности анода в сильноточной дуге пониженного давления. Предложена полуэмпирическая методика определения плотности тока на аноде в распределенном разряде. Значения плотности тока лежат в диапазоне $5$–$40$ А/см$^2$.
Ссылка на статью:
Ивашкин А.Б., Козлов Н.П., Решетников Н.Н. Определение профилей температуры на поверхности радиационно-охлаждаемого анода и средней плотности тока в анодном пятне аргоновых дуг, ТВТ, 1984. Т. 22. № 4. С. 644

High Temp. 1984, v.22, №4, pp. 512-517