Статья
Исследование плазмы
2009. Т. 47. № 1. С. 5–16
Михайлов А.А., Витель И., Игнатович Л.М.
Новый способ описания экранирования в сильно неидеальной пылевой плазме. Часть 2. Двухкомпонентные системы
Предложена новая теоретическая модель электростатического экранирования в двухкомпонентных системах (электрон-ионной плазме, пылевой плазме, электролитах и т.д.), пригодная для описания систем с высокой степенью неидеальности. Получены выражения для параметров экранирования, введенных в предыдущей части настоящей работы [1], а также дополнительные характеристики, присущие только многокомпонентным системам. Результаты представлены в простой аналитической форме, удобной для интерпретации экспериментальных данных при лабораторных исследованиях.
Ссылка на статью:
Михайлов А.А., Витель И., Игнатович Л.М. Новый способ описания экранирования в сильно неидеальной пылевой плазме. Часть 2. Двухкомпонентные системы, ТВТ, 2009. Т. 47. № 1. С. 5
High Temp. 2009, v.47, №1, pp. 1-12
Михайлов А.А., Витель И., Игнатович Л.М. Новый способ описания экранирования в сильно неидеальной пылевой плазме. Часть 2. Двухкомпонентные системы, ТВТ, 2009. Т. 47. № 1. С. 5
High Temp. 2009, v.47, №1, pp. 1-12