Статья

Архив, 1966, № 3

Методы экспериментальных исследований и методы измерений

1966. Т. 4. № 3. С. 412–418

Кунырина Л.И., Титков А.С.

Об одном методе измерений приведенных коэффициентов черноты для коаксиальной системы поверхностей

Разработан калориметрический метод измерений приведенных коэф­фициентов черноты $\varepsilon_{\text{пр}}$ для коаксиальной системы поверхностей. При из­мерениях обнаружено существование на поверхности вольфрама оптиче­ски «толстого» слоя, интегральный коэффициент черноты $\varepsilon$ которого отличается от $\varepsilon$ чистой вольфрамовой поверхности. Проведено предвари­тельное исследование условий возникновения и исчезновения этого слоя. Проведено измерение $\varepsilon_{\text{пр}}$ для системы поверхностей вольфрам – молиб­ден. Измеренные значения $\varepsilon_{\text{пр}}$ значительно отличаются от значений $\varepsilon_{\text{пр}}$, вычисленных по данным $\varepsilon$ для каждой поверхности и известной формуле для серых тел.

УДК: 535.341

Ссылка на статью:
Кунырина Л.И., Титков А.С. Об одном методе измерений приведенных коэффициентов черноты для коаксиальной системы поверхностей, ТВТ, 1966. Т. 4. № 3. С. 412

High Temp. 1966, v.4, №3, pp. 0-0