Статья

Исследование плазмы
1979. Т. 17. № 6. С. 1153–1160
Бычков В.Л., Елецкий А.В.
Сжатие разряда в молекулярном электроотрицательном газе
Аннотация
Рассмотрен механизм сжатия разряда, согласно которому образо­вание электронов происходит преимущественно в узкой приосевой об­ласти разрядной трубки, а их нейтрализация связана с образованием отрицательных ионов и последующей ион-ионной рекомбинацией. Рез­кое уменьшение размера области, где образуются свободные электро­ны, обусловлено развитием тепловой неустойчивости, связанной с резкими температурными зависимостями константы скорости колеба­тельной релаксации и ионизации молекул электронным ударом. На основании приближенного решения системы уравнений баланса для плотности электронов, поступательной и колебательной температуры газа установлены условия сжатия разряда, которые сопоставляются с результатами экспериментальных исследований сжатия разряда в мо­лекулярном кислороде.
Ссылка на статью:
Бычков В.Л., Елецкий А.В. Сжатие разряда в молекулярном электроотрицательном газе, ТВТ, 1979. Т. 17. № 6. С. 1153

High Temp. 1979, v.17, №6, pp. 951-958