Статья
Тепломассообмен и физическая газодинамика
1996. Т. 34. № 1. С. 69–74
Пилюгин Н.Н., Орфанов И.В.
Определение температуры по интенсивности линий Cs и Li в слое испарения при сверхзвуковом обтекании конуса. Теоретическое исследование
Аннотация
На основе метода кривых роста для интенсивности излучения предложен способ для определения температуры и электронной концентрации в пристеночном слое плазмы. Использованы результаты измерений интенсивности излучения продуктов испарения CsCl и LiF с боковой поверхности конуса при сверхзвуковом обтекании потоком ионизованного воздуха. Проведены расчеты параметров при разном процентном содержании элементов Cs и Li в индикаторном покрытии.
Ссылка на статью:
Пилюгин Н.Н., Орфанов И.В. Определение температуры по интенсивности линий Cs и Li в слое испарения при сверхзвуковом обтекании конуса. Теоретическое исследование, ТВТ, 1996. Т. 34. № 1. С. 69
High Temp. 1996, v.34, №1, pp. 65-70
Пилюгин Н.Н., Орфанов И.В. Определение температуры по интенсивности линий Cs и Li в слое испарения при сверхзвуковом обтекании конуса. Теоретическое исследование, ТВТ, 1996. Т. 34. № 1. С. 69
High Temp. 1996, v.34, №1, pp. 65-70