Статья

Архив, 1996, № 1

Тепломассообмен и физическая газодинамика

1996. Т. 34. № 1. С. 69–74

Пилюгин Н.Н., Орфанов И.В.

Определение температуры по интенсивности линий $\mathrm{Cs}$ и $\mathrm{Li}$ в слое испарения при сверхзвуковом обтекании конуса. Теоретическое исследование

На основе метода кривых роста для интенсивности излучения предложен способ для определения температуры и электронной концентрации в пристеночном слое плазмы. Использованы результаты измерений интенсивности излучения продуктов испарения $\mathrm{CsCl}$ и $\mathrm{LiF}$ с боковой поверхности конуса при сверхзвуковом обтекании потоком ионизованного воздуха. Проведены расчеты параметров при разном процентном содержании элементов $\mathrm{Cs}$ и $\mathrm{Li}$ в индикаторном покрытии.

УДК: 535.8:533.6.078.2
WoS: A1996TX59300013

Ссылка на статью:
Пилюгин Н.Н., Орфанов И.В. Определение температуры по интенсивности линий $\mathrm{Cs}$ и $\mathrm{Li}$ в слое испарения при сверхзвуковом обтекании конуса. Теоретическое исследование, ТВТ, 1996. Т. 34. № 1. С. 69

High Temp. 1996, v.34, №1, pp. 65-70