Статья

Исследование плазмы
2015. Т. 53. № 3. С. 337–346
Наумов Н.Ю.
Диффузионно-ионизационный механизм поперечного распространения таунсендовского и тлеющего разрядов и его влияние на устойчивость и природу нормальной плотности тока
Аннотация
Теоретически и экспериментально исследован диффузионно-ионизационный механизм поперечного распространения короткого таунсендовского разряда вблизи минимума кривой Пашена. Обнаружено, что влияние продольной диффузии электронов вызывает значительное усиление поперечного распространения разряда. При различных электрических полях $(E/p \approx 100$–$220$ В см$^{–1}$ Тор$^{–1})$ измерен эффективный коэффициент диффузионно-ионизационного распространения разряда в неоне, который может в несколько раз превышать коэффициент амбиполярной диффузии. Теоретически и экспериментально определена граница поперечной неустойчивости таунсендовского разряда в неоне. Дана оценка вклада диффузии в граничное условие, определяющее нормальную плотность тока.
Ссылка на статью:
Наумов Н.Ю. Диффузионно-ионизационный механизм поперечного распространения таунсендовского и тлеющего разрядов и его влияние на устойчивость и природу нормальной плотности тока, ТВТ, 2015. Т. 53. № 3. С. 337

High Temp. 2015, v.53, №3, pp. 319-328