Статья

Исследование плазмы
1991. Т. 29. № 1. С. 45–55
Шевкунов С.В.
Термическое разрушение электронной оболочки $\mathrm{Be}^+$ в плотной высокотемпературной плазме. Расчет методом Монте-Карло
Аннотация
Численным методом, основанным на технике фейнмановских интегралов по траекториям, моделируется смешанное квантовое состояние электронной оболочки $\mathrm{Be}^+$ при температуре $10$–$30$ эВ, относительно устойчивое в условиях плотной плазмы. Межэлектронные корреляции и взаимодействия описываются явно. Показано, что в предионизационном состоянии электронная оболочка претерпевает качественные перестроения, обусловленные обменно-корреляционными эффектами.
Ссылка на статью:
Шевкунов С.В. Термическое разрушение электронной оболочки $\mathrm{Be}^+$ в плотной высокотемпературной плазме. Расчет методом Монте-Карло, ТВТ, 1991. Т. 29. № 1. С. 45

High Temp. 1991, v.29, №1, pp. 44-53