Статья

Теплофизические свойства веществ
1977. Т. 15. № 5. С. 994–999
Егоров Б.Н., Килессо В.С., Комаров А.Г.
Метод измерения теплопроводности тонких пленок по нормали к слою
Аннотация
Предложен метод измерения теплопроводности тонких пленок, в котором использован принципиально новый способ измерения перепада температуры на тонком слое. Проведен анализ методической погрешности. Определяется минимальная толщина пленки, теплопроводность которой можно измерить предлагаемым методом: рассматриваются варианты конструктивной реализации метода. Приводятся экспериментальные значения теплопроводности пяти марок электроизоляции (толщиной $25$–$50$ мкм) медных проводов.
Ссылка на статью:
Егоров Б.Н., Килессо В.С., Комаров А.Г. Метод измерения теплопроводности тонких пленок по нормали к слою, ТВТ, 1977. Т. 15. № 5. С. 994

High Temp. 1977, v.15, №5, pp. 841-845